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技术参数：

1、测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变

2、最小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；

3、最大输出：3kw；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kv(1kv/1step)；管电流：10～60ma。

应用范围：

  布鲁克公司的d8 advance x射线衍射仪是当今世界上最先进的x射线衍射仪系统，它设计精密，硬件软件功能齐全，能灵活地适应粉末，薄膜及完全晶体的各种微观结构测定，分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位，入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台：试样所处高真空石墨罩，真空度达到2*10-3mpa，试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。
  利用它可进行：（1）物相分析，可以对物质的组成及物相进行表征分析；（2）定性、定量分析，通过精修可对物质的各组分进行精确的定量分析。(3)高温原位分析，通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响

送样要求：

1. 固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um（过200目），通常以手感无任何颗粒感即可，不少于0.1g；

2. 块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm。