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技术参数：

1.光谱分辨率：全谱段 ≤ 2 cm^-1； 
2.空间分辨率：横向1微米, 纵向2微米；
3.灵敏度：s/n 10:1（硅三阶峰，约1440 cm^-1）；
4.扫描范围：532nm激发：100-8000cm^-1；632.8nm激发：100-6000cm^-1；785nm激发：100-3200 cm^-1；
5.光谱重复性：±0.2 cm^-1；
6.激光波长：532，632，785nm；
7.ccd响应范围：100－4000 cm^-1；
8.xyz自动平移台：最小步长0.1微米，重复性0.2微米。

应用范围：

1.碳材料：碳纳米管的管径，杂质含量，碳纤维的拉伸性能，金刚石薄膜的晶粒取向和应力，石墨烯的缺陷和峰位以及dlc膜的磨损率等
2.半导体工业和材料：可分析应变、应力，表面损伤，沾污以及掺杂的有序度等等
3.高分子材料科学与应用：材料的构相，结构，特性，污染分析以及现场应变测量
4.化学、生物：催化剂组分，陶瓷及氧化物等材料的研究
5.腐蚀－抗腐蚀性能：氧化物分析，电化学腐蚀研究
6.矿物与宝石鉴定：快速、准确的宝石鉴定， 无损伤分析宝石内的杂质( 小至微米尺度 ) 地质矿物成份分析
7.公安与法学：可分析爆炸物，汽车喷漆，毒品及文检等
8.医药工业：质量检验，质量控制，成份分析等
9.文物鉴定等 

送样要求：

1、液体样品提供1ml以上，一般不建议液体测试
2、粉末样品提供20mg以上，或者提供黄豆大小体积的样品
3、块体样品要求试样长宽≥2mm，高度≤2cm；薄膜样品需要厚度≥100nm